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用X射线散射法研究HF,HCI,H2SO4和HAC对磷脂酰乙醇胺液晶结构影响的机理

孙润广 王德华 王丰然 王子浩 张静

用X射线散射法研究HF,HCI,H2SO4和HAC对磷脂酰乙醇胺液晶结构影响的机理

孙润广, 王德华, 王丰然, 王子浩, 张静
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出版历程
  • 收稿日期:  1992-03-12
  • 刊出日期:  2005-07-10

用X射线散射法研究HF,HCI,H2SO4和HAC对磷脂酰乙醇胺液晶结构影响的机理

  • 1. (1)陕西师范大学实验中心,西安710062; (2)西安市化工研究所

摘要: 采用小角X射线散射法(SAXS)研究了HF,HCl,H2SO4和HAC分别对含水磷脂酰乙醇胺(PE)液晶结构的影响。通过研究发现,HF有使PE液晶态变成C相的机理,HCl有使PE液晶态变成LH相的机理,H2SO4有使PE液晶态变成La相的机理。而HAC则有使PE液晶态经过La相转变成LH相的机理。

English Abstract

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