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高聚物(PEO)n-CuBr2薄膜在流体静高压下的离子导电性

谢斌 苏昉 王文楼 蒋宗驷 林枫凉

高聚物(PEO)n-CuBr2薄膜在流体静高压下的离子导电性

谢斌, 苏昉, 王文楼, 蒋宗驷, 林枫凉
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出版历程
  • 收稿日期:  1993-06-18
  • 刊出日期:  1994-10-20

高聚物(PEO)n-CuBr2薄膜在流体静高压下的离子导电性

  • 1. (1)中国科学技术大学基础物理中心; (2)中国科学技术大学基础物理中心,中国科学技术大学结构分析开放研究实验室; (3)中国科学技术大学近代化学系
    基金项目: 

    国家科学技术委员会基础处资助的课题.

摘要: 用混溶蒸发法制备出高聚物(PEO)n-CuBr2(n=4,8,12,16,24)薄膜。并详细测量它们在0.1-350MPa静水压范围的复阻抗谱,以及在0.1-2400MPa静水压范围的交流电导率。结果表明:离子电导率与压力的依赖关系可分解为四段相迭加的线性关系。根据X射线衍射物相分析,它们分别归于PEO非晶相的压力效应,PEO结晶相的压力效应和析出新相CuBr2的压力效应。最后给出克服办法——添加少量增塑剂碳酸乙烯酯可增加(PEO)n-CuBr2薄膜的弹性,使压力下的离子电导率提高一至两个数量级。

English Abstract

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