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用扫描隧道显微镜测量局域功函数

K.INOUE Y.HASEGAWA T.SAKURAI 贾金锋 盖峥 杨威生

用扫描隧道显微镜测量局域功函数

K.INOUE, Y.HASEGAWA, T.SAKURAI, 贾金锋, 盖峥, 杨威生
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出版历程
  • 收稿日期:  1997-01-16
  • 刊出日期:  1997-08-20

用扫描隧道显微镜测量局域功函数

  • 1. (1)The Institute for Materials Research,Tohoku University,Sendai 980-77,Japan; (2)北京大学物理系人工微结构和介观物理国家重点实验室

摘要: 用扫描隧道显微镜在Cu(111)-Au和Pt(111)-Ag表面上对局域功函数进行了测量.在扫描的同时通过测量隧道电流对针尖样品间距离变化的响应,可以在得到扫描隧道显微镜(STM)图的同时得到功函数图.用这种方法,成功地观察到Au,Ag覆盖层与Cu,Pt衬底间的功函数的差别.结果表明:Au覆盖层的功函数介于Cu(111)和Au(111)的功函数之间,这与其它方法的结果一致.在Pt(111)-Ag表面观察到了局域功函数随覆盖层厚度的变化.本工作表明:扫描隧道显微镜在研究功函数与表面结构的关系方面是十分有用的;用测量局域功函数的方法还可以区分表面不同种的物质

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