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小角X射线散射法测定溶胶平均界面厚度

李志宏 巩雁军 吴东 孙予罕 王俊 柳义 董宝中

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小角X射线散射法测定溶胶平均界面厚度

李志宏, 巩雁军, 吴东, 孙予罕, 王俊, 柳义, 董宝中

DETERMINATION OF THE AVERAGE THICKNESS OF INTERFACE LAYER WRAPPED ABOUT SiO2 SOLS BY SAXS

LI ZHI-HONG, GONG YAN-JUN, WU DONG, SUN YU-HAN, WANG JUN, LIU YI, DONG BAO-ZHONG
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出版历程
  • 收稿日期:  2000-11-01
  • 修回日期:  2000-12-07
  • 刊出日期:  2001-03-05

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