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一种利用光电流和光透过曲线测量电吸收调制器插入损耗因素的方法

廖栽宜 赵玲娟 张云霄 边静 潘教青 王圩

一种利用光电流和光透过曲线测量电吸收调制器插入损耗因素的方法

廖栽宜, 赵玲娟, 张云霄, 边静, 潘教青, 王圩
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  • 提出一种新颖的方法用于测量电吸收调制器(electroabsorption modulator,EAM)各种因素造成的插入损耗.此方法仅需要测量波长相关的光电流(Iph-λ)和光透过功率(P-λ)的数据,通过最小二乘法拟合出结果.理论分析表明此方法较精确,实验表明测试结果与理论拟合结果自洽得很好.
    • 基金项目: 国家自然科学基金(批准号:90401025)和国家重点基础研究发展计划(973)项目(批准号:2006CB604901)资助的课题.
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出版历程
  • 收稿日期:  2008-07-16
  • 修回日期:  2008-08-01
  • 刊出日期:  2009-05-20

一种利用光电流和光透过曲线测量电吸收调制器插入损耗因素的方法

  • 1. 中国科学院半导体研究所,中国科学院半导体材料重点实验室,北京 100083
    基金项目: 

    国家自然科学基金(批准号:90401025)和国家重点基础研究发展计划(973)项目(批准号:2006CB604901)资助的课题.

摘要: 提出一种新颖的方法用于测量电吸收调制器(electroabsorption modulator,EAM)各种因素造成的插入损耗.此方法仅需要测量波长相关的光电流(Iph-λ)和光透过功率(P-λ)的数据,通过最小二乘法拟合出结果.理论分析表明此方法较精确,实验表明测试结果与理论拟合结果自洽得很好.

English Abstract

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