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由于鉴相精度限制、电路等引入的附加相移干扰等因素,传统相位测距技术精度的提高受到了限制. 采用二次偏振调制技术对相位测距技术进行了改进. 利用二次偏振调制方法能够直接在相位调制器上对两次调制信号的相位差进行解调,大幅度简化了系统的复杂程度. 采用变频方法替代传统的鉴相方法,从而系统的测量精度不再受鉴相问题的困扰. 从理论上得到系统输出光强与调制频率成正余弦关系,并进行了实验验证. 基于变频测距的实验中,系统频率的稳定度优于10-6,测量精度可以达到±10.6 μm(被测距离为4.5 m). 并对一段长200 m的光纤进行了实际测量,得到了清晰的调制频率与系统输出光强的曲线.
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[9] Amann M, Bosch T, Myllyla R, Rioux M, Lescure M 2001 Opt. Eng. 40 10
[10] Xu H, Li X Y, Xiao X, Li Z Y, Yu Y D, Yu J Z 2013 Chin. Phys. B 22 114212
[11] Hirota Y, Hattori R 2006 Opt. Express 14 4486
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[17] Yoon H, Hong J, Huisung K, Kyihwan P 2008 International Conference on Control, Automation and Systems Seoul, Korea, October 14-17, 2008 p2280
[18] Yu D Y, Tan H Y 2005 The Optical Engineering (Beijing: Machinery Industry Press) p306 (in Chinese) [郁道银, 谈恒英 2005 工程光学 (北京: 机械工业出版社) 第306页]
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