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用于透明平板平行度和均匀性测量的单元件干涉仪

兰斌 冯国英 张涛 梁井川 周寿桓

用于透明平板平行度和均匀性测量的单元件干涉仪

兰斌, 冯国英, 张涛, 梁井川, 周寿桓
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出版历程
  • 收稿日期:  2016-11-10
  • 修回日期:  2016-11-29
  • 刊出日期:  2017-03-20

用于透明平板平行度和均匀性测量的单元件干涉仪

  • 1. 四川大学电子信息学院激光微纳工程研究所, 成都 610064;
  • 2. 华北光电技术研究所, 北京 100015
  • 通信作者: 冯国英, guoing_feng@scu.edu.cn
    基金项目: 

    国家自然科学基金(批准号:11574221)资助的课题.

摘要: 提出了一种基于单元件干涉的用于检测透明介质平整度和均匀性的干涉仪.该干涉仪的核心元件是一个菱形分光棱镜.激光光源的平面波光束的一半光束透过待测样品,另一半光束直接透过空气,然后分别入射到菱形分光棱镜的两垂直面并在分光面相遇、相干.通过旋转待测样品改变相干的两束光光程差,从而使干涉条纹发生移动.形成的相干光被分光板分成两束,一束进入光电探测器用于探测干涉条纹移动数的整数部分,另一束则进入电荷耦合探测器用于采集干涉条纹图来计算干涉条纹移动数的小数部分.通过计算条纹移动数反推出光程差的变化量,再结合折射率或样品厚度信息则可以计算出样品厚度或折射率的分布,从而检测出透明介质的平行度和均匀性.模拟仿真和光学实验均证明了本方法的可行性、准确性和稳定性.

English Abstract

参考文献 (15)

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