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用范德保法测量碳化硅的电阻率和霍耳效应

冯锡淇 骆宾章 唐福娣 张雁行 洪福根 谭浩然

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用范德保法测量碳化硅的电阻率和霍耳效应

冯锡淇, 骆宾章, 唐福娣, 张雁行, 洪福根, 谭浩然

MEASUREMENTS OF RESISTIVITY AND HALL EFFECT IN SILICON CARBIDE BY THE VAN DER PAUW METHOD

FUNG SI-CHI, LOG BIN-CHANG, TON FU-DI, CHANG YEN-SING, HONG FU-GUN, TAM HOA-YEN
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出版历程
  • 收稿日期:  1966-01-26
  • 刊出日期:  2005-08-05

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