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静电力显微镜研究二相材料及其界面介电特性

孙志 王暄 韩柏 宋伟 张冬 郭翔宇 雷清泉

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静电力显微镜研究二相材料及其界面介电特性

孙志, 王暄, 韩柏, 宋伟, 张冬, 郭翔宇, 雷清泉

Dielectric property of binary phase composite and its interface investigated by electric force microscope

Sun Zhi, Wang Xuan, Han Bai, Song Wei, Zhang Dong, Guo Xiang-Yu, Lei Qing-Quan
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  • 利用静电力显微镜(EFM)研究了二相材料不同区域的介电特性. 制备了高定向石墨/聚乙烯、云母/聚乙烯等层叠状二相材料复合物, 在EFM相位检测模式下观测二相材料过渡界面处, 可以发现二相材料中介电常数较大的材料会引起较大的相位滞后角Δθ该相位滞后角正切值tan(Δθ) 与探针电压VEFM存在二次函数关系, 且函数二次项系数与样品的介电常数存在增函数关系, 进而可在微纳米尺度下区分不同微区域内材料的介电常数差异. 研究表明EFM 可用于对材料介电特性的微纳米尺度测量, 这对分析复合材料二相界面区域特性有积极意义.
    Dielectric property of two-phase stack-up sample is studied by electric force microscopy (EFM). Highly oriented pyrolytic graphite (HOPG)/polyethylene(PE) and mica/PE are fabricated. The phenomenon that phase shift (Δθ) of conducting probe varys with dielectric constant of material is discovered near the interface between the two materials by using phase detection EFM. The characteristic curves of tan(Δθ) versus tip voltage VEFM are of parabolic type. Quadratic coefficient increases with dielectric constant ε increasing. An approach to the qualitative analysis of the dielectric property near the interface between different material at the micro/nanometer scale, is provided in this paper.
    • 基金项目: 国家重点基础研究发展计划 (批准号: 2009CB724505)、国家自然科学基金 (批准号: 5097702)、黑龙江省电介质工程国家重点实验室培育基地前沿项目预研基金 (批准号: DE2012B07)和哈尔滨理工大学青年科学研究基金(批准号: 2011YF013)资助的课题.
    • Funds: Project supported by the National Basic Research Program of China (Grant No. 2009CB724505), the National Natural Science Foundation of China (Grant No. 5097702), State Key Laboratory Breeding Base of Dielectrics Engineering, China (Grant No. DE2012B07) and Harbin University of Science and Technology Science Foundation for Youths, China (Grant No. 2011YF013).
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出版历程
  • 收稿日期:  2012-08-28
  • 修回日期:  2012-09-13
  • 刊出日期:  2013-02-05

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