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频率对半导体器件热击穿影响的理论模型

张存波 闫涛 杨志强 任伟涛 朱占平

引用本文:
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频率对半导体器件热击穿影响的理论模型

张存波, 闫涛, 杨志强, 任伟涛, 朱占平

heoretical model of influence of frequency on thermal breakdown in semiconductor device

Zhang Cun-Bo, Yan Tao, Yang Zhi-Qiang, Ren Wei-Tao, Zhu Zhan-Ping
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出版历程
  • 收稿日期:  2016-08-19
  • 修回日期:  2016-09-03
  • 刊出日期:  2017-01-05

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