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用X射线荧光光谱法非破坏测定多元合金薄膜的组分和厚度

程建邦 程万荣 王喜红 郝贡章 吴长存

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用X射线荧光光谱法非破坏测定多元合金薄膜的组分和厚度

程建邦, 程万荣, 王喜红, 郝贡章, 吴长存

NON-DESTRUCTIVE DETERMINATION OF COMPOSITION AND THICKNESS OF MULTI-COMPONENT ALLOY THIN FILMS BY X-RAY FLUORESCENCE SPECTROSCOPIC METHOD

CHENG JIAN-BANG, CHENG WAN-RONG, WANG XI-HONG, HAO GONG-ZHANG, WU ZHANG-CUN
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出版历程
  • 收稿日期:  1982-05-14
  • 刊出日期:  1983-01-05

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