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背射Kossel衍射线的指标化

范得培 韩福森

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背射Kossel衍射线的指标化

范得培, 韩福森

THE INDEXING OF BACK-REFLECTION KOSSEL DIFFRACTION PATTERNS

FAN DE-PEI, HAN FU-SEN
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  • 背射Kossel线衍射花样由于各衍射圆锥不共顶点,因此它的指标化有一定困难,特别是对非立方晶系。本文论述两种对立方晶系和非立方晶系都适用的背射Kossel线衍射花样指标化的方法。用本文介绍的极图法或计算机程序方法可以很容易地测定背射Kossel线的衍射指数。第一种方法的特点是简单而且直观;第二种方法自动化程度高,且可以使用误差较大的测量数据。
    The difficulty in indexing back-reflection Kossel diffraction patterns, especially for non-cubic systems arises from the fact that the diffraction cones do not have common vertex.Two methods which can be used for indexing diffraction patterns, both in cubic and non-cubic systems, are presented in this paper. By means of the stereographic pro-jction or computer programm described here, one can easily determine the diffraction indices of back-reflection Kossel lines.The advantage of the frst method is simple and direct. For the second method, the degree of automatization is higher, and measured data with some errors can be employed.
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出版历程
  • 收稿日期:  1985-03-17
  • 刊出日期:  1986-01-05

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