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电子辐照硅层中缺陷能级的研究

吴凤美 赖启基 沈波 周国泉

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电子辐照硅层中缺陷能级的研究

吴凤美, 赖启基, 沈波, 周国泉

A STUDY OF ELECTRON IRRADIATION-INDUCED DEFECTS IN Si LAYERS

WU FENG-MEI, LAI QI-JI, SHEN BO, ZHOU GUO-QUAN
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出版历程
  • 收稿日期:  1985-07-01
  • 刊出日期:  2005-07-14

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