搜索

x

留言板

尊敬的读者、作者、审稿人, 关于本刊的投稿、审稿、编辑和出版的任何问题, 您可以本页添加留言。我们将尽快给您答复。谢谢您的支持!

姓名
邮箱
手机号码
标题
留言内容
验证码

薄栅氧化层中陷阱电荷密度的测量方法

刘红侠 郑雪峰 郝跃

引用本文:
Citation:

薄栅氧化层中陷阱电荷密度的测量方法

刘红侠, 郑雪峰, 郝跃

Liu Hong-Xia, Zheng Xue-Feng, Hao Yao
PDF
导出引用
计量
  • 文章访问数:  8546
  • PDF下载量:  993
  • 被引次数: 0
出版历程
  • 收稿日期:  2001-06-19
  • 修回日期:  2001-07-26
  • 刊出日期:  2005-04-11

/

返回文章
返回