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大规模集成电路总剂量效应测试方法初探

贺朝会 耿斌 何宝平 姚育娟 李永宏 彭宏论 林东生 周辉 陈雨生

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大规模集成电路总剂量效应测试方法初探

贺朝会, 耿斌, 何宝平, 姚育娟, 李永宏, 彭宏论, 林东生, 周辉, 陈雨生

Test methods of total dose effects in verylarge scale integrated circuits

He Chao-Hui, Geng Bin, He Bao-Ping, Yao Yu-Juan, Li Yong-Hong, Peng Hong-Lun, Lin Dong-Sheng, Zhou Hui, Chen Yu-Sheng
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出版历程
  • 收稿日期:  2003-01-24
  • 修回日期:  2003-03-17
  • 刊出日期:  2004-01-15

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