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超深亚微米PMOS器件的NBTI退化机理

李忠贺 刘红侠 郝 跃

引用本文:
Citation:

超深亚微米PMOS器件的NBTI退化机理

李忠贺, 刘红侠, 郝 跃

Mechanism of NBTI degradation in ultra deep submicron PMOSFET’s

Li Zhong-He, Liu Hong-Xia, Hao Yue
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出版历程
  • 收稿日期:  2005-05-20
  • 修回日期:  2005-07-04
  • 刊出日期:  2006-01-05

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