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AlGaAs/InGaAs PHEMT栅电流参数退化模型研究

万宁 郭春生 张燕峰 熊聪 马卫东 石磊 李睿 冯士维

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AlGaAs/InGaAs PHEMT栅电流参数退化模型研究

万宁, 郭春生, 张燕峰, 熊聪, 马卫东, 石磊, 李睿, 冯士维

Gate current degradation model of the AlGaAs/InGaAs PHEMT

Wan Ning, Guo Chun-Sheng, Zhang Yan-Feng, Xiong Cong, Ma Wei-Dong, Shi Lei, Li Rui, Feng Shi-Wei
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出版历程
  • 收稿日期:  2013-03-23
  • 修回日期:  2013-04-15
  • 刊出日期:  2013-08-05

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