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电子衍射强度与结构振幅之间的经验关系及其在结构分析中的应用
李方华
物理学报, 1963,
19(11)
: 735-740.
DOI:
10.7498/aps.19.735
CSTR:
32037.14.aps.19.735
ЭМПИЕРИЧЕСКАЯ СВЯЗЬ МЕЖДУ ИНТЕНСИВНОСТЯМИ ДИФРАКЦИИ ЭЛЕКТРОНОВ И СТРУКТУРНЫМИ АМПИТУДАМИ И ЕЁ ПРИМЕНЕНИЕ В СТРУКТУРНОМ АНАЛИЗЕ
Acta Phys. Sin.
, 1963,
19(11)
: 735-740.
DOI:
10.7498/aps.19.735
CSTR:
32037.14.aps.19.735
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本文讨论了电子衍射强度与结构振幅之间的经验关系,并用Au,Ag,Al多晶体和23烷醇单晶体为例,验证了此关系。当电子衍射强度的运动学散射公式失效时,可以利用此经验关系而不依靠任何理论公式,从衍射强度本身同时测定结构振幅及温度因子。本文描述了此方法,并给出了将此方法应用于23烷醇单晶体的结果。
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李方华
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