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用高分辨电子显微镜测定晶体结构

物理学报, 1977, 26(3): 193-198.
DOI: 10.7498/aps.26.193
CSTR: 32037.14.aps.26.193

DETERMINATION OF CRYSTAL STRUCTURES BY HIGH RESOLUTION ELECTRON MICROSCOPY

Acta Phys. Sin., 1977, 26(3): 193-198.
DOI: 10.7498/aps.26.193
CSTR: 32037.14.aps.26.193
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  • 摘要

    本文提出一个把高分辨电子显微图和相应的选区电子衍射图结合起来以测定晶体结构的方法. 此法可解决从电子衍射数据求解结构振幅绝对值的问题, 亦可解决各种衍射分析所共有的相角间题. 所得结构图像的分辨本领将优于电子显微图, 而有可能接近于衍射分辨极限.

     

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