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扫描电子显微镜中电子通道带宽的测量

物理学报, 1978, 27(4): 470-472.
DOI: 10.7498/aps.27.470
CSTR: 32037.14.aps.27.470

MEASUREMENT OF THE BAND WIDTH OF ELECTRON CHANNELLING PATTERNS IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPY

Acta Phys. Sin., 1978, 27(4): 470-472.
DOI: 10.7498/aps.27.470
CSTR: 32037.14.aps.27.470
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