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椭偏光法研究晶体各向异性光学性质----对KNSBN铁电晶体的应用

物理学报, 1989, 38(8): 1245-1252.
DOI: 10.7498/aps.38.1245
CSTR: 32037.14.aps.38.1245

MEASUREMENT OF ANISOTROPIC OPTICAL CONSTANTS BY ELLIPSOMETRY APPL ICATION ON KNSBM FERROELECTRIC CRYSIALS

Acta Phys. Sin., 1989, 38(8): 1245-1252.
DOI: 10.7498/aps.38.1245
CSTR: 32037.14.aps.38.1245
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  • 摘要

    本文分析了椭偏光法测量各向异性晶体时入射角和起偏角对测量灵敏度的影响, 着重付论了如何选择合适的实验条件以测量低度各向异性(︱n。-n_e︱< 0.1) 晶体的光学性质. 利用单波长椭偏仪和多波长椭偏谱仪测量了方解石和KNSBN 铁电体样品, 得到各向异性折射率和消光系数值, 与文献有关结果作了比较. 对于︱n。-n_e︱< 0.1 的KNSBN 铁电晶体, 获得了可靠的结果.

     

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