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金属-绝缘体-半导体器件红外探测机理研究

物理学报, 1995, 44(7): 1137-1140.
DOI: 10.7498/aps.44.1137
CSTR: 32037.14.aps.44.1137

Acta Phys. Sin., 1995, 44(7): 1137-1140.
DOI: 10.7498/aps.44.1137
CSTR: 32037.14.aps.44.1137
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  • 摘要

    建立金属-绝缘体-半导体器件反型层子能带结构的势理论模型,并由此模型研究了金属-绝缘体-半导体器件红外探测器的工作机理及制作的关键.

     

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