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Bi-2Sr-2CuO-y单晶正常态的电子输运

物理学报, 1995, 44(1): 128-132.
DOI: 10.7498/aps.44.128
CSTR: 32037.14.aps.44.128

Acta Phys. Sin., 1995, 44(1): 128-132.
DOI: 10.7498/aps.44.128
CSTR: 32037.14.aps.44.128
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  • 摘要

    测量了不同Bi-(2)Sr-(2)CuO-(7)单晶样品ab平面内电阻ρ-(ab)随温度的变化关系.对于处在掺杂不足区域的样品,没有观察到类似于YBa-2Cu-4O-8,YBa-2Cu-3O-(r-y)体系由于自旋能隙的出现而引起的电阻率的突然加快减小现象.我们对实验结果进行了讨论.

     

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