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弹道电子发射显微镜对Au/n-Si(100)界面势垒的探测

物理学报, 1995, 44(1): 133-136.
DOI: 10.7498/aps.44.133
CSTR: 32037.14.aps.44.133

Acta Phys. Sin., 1995, 44(1): 133-136.
DOI: 10.7498/aps.44.133
CSTR: 32037.14.aps.44.133
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  • 摘要

    用弹道电子发射显微镜对Au/n-Si(100)界面势垒测试,直接得出定点的势垒特性和纳米尺度的界面图象.通过所测的I-(c)-V曲线,可得所测点的肖特基势垒高度及电荷传输特性.界面图象可以显示界面极小范围内势垒的特性.

     

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