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赝能隙导致的YBa2(Cu1－xMx)3O7-δ(M=Co,Zn)薄膜的输运性质异常

物理学报, 2002, 51(8): 1836-1840.
DOI: 10.7498/aps.51.1836
CSTR: 32037.14.aps.51.1836

Acta Phys. Sin., 2002, 51(8): 1836-1840.
DOI: 10.7498/aps.51.1836
CSTR: 32037.14.aps.51.1836
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  • 摘要

    报道了两类典型元素替代的超导Y123相体系-YBa2(Cu1-xCox)3O7-δ(x=001,002)和YBa2(Cu1-yZny)3O7-δ(y=0005,0010)薄膜的电阻率温度特性(ρ(T))和Hall效应(RH(T)).研究表明,Co掺杂的Y123相体系十分类似于氧欠掺杂的情况,对Co掺杂的薄膜样品,由电阻率温度特性定义的赝能隙打开的温度T分别为193和225K.而Zn掺杂的样品没有观察到赝能隙打开对电阻率温度特性的影响.由Hall效应的测量和Hall角(cotθH)定义了另一个特征温度T0,

     

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