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氧化铬外延薄膜的x射线研究

物理学报, 2004, 53(10): 3510-3514.
DOI: 10.7498/aps.53.3510
CSTR: 32037.14.aps.53.3510

X-ray study of chromium oxide films epitaxially grown on MgO

Acta Phys. Sin., 2004, 53(10): 3510-3514.
DOI: 10.7498/aps.53.3510
CSTR: 32037.14.aps.53.3510
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  • 摘要

    采用分子束外延技术(MBE)在MgO(001)基板上沉积了氧化铬薄膜，并利用x射线衍射 (XRD)和x射线反射谱(XRR)对薄膜的晶体结构进行了表征.θ—2θ扫描和倒易空间图(R SM)揭示出薄膜为单相c轴外延生长，晶体结构为体心正交，晶胞常数a，b，c分别为0.8940±0.0003，0.298±0.0002和0.3897±0.0002nm.扫描表明薄膜在面内具有90°孪晶，取向关系为a∥MgO〈110〉,c∥MgO(001).XRR谱测得薄膜的电子 密度为1350±20nm-3，与由晶胞体积 计算得

     

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