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更正: 基于55 nm DICE结构的单粒子翻转效应模拟研究物理学报 2024, 73(6): 066103

物理学报, 2024, 73(7): 079901.
DOI: 10.7498/aps.73.079901
CSTR: 32037.14.aps.73.079901

Erratum: Three-dimensional numerical simulation of single event upset effect based on 55 nm DICE latch unitActa Phys. Sin. 2024, 73(6): 066103

Acta Phys. Sin., 2024, 73(7): 079901.
DOI: 10.7498/aps.73.079901
CSTR: 32037.14.aps.73.079901
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      原文

      基于55 nm DICE结构的单粒子翻转效应模拟研究 

      张幸, 刘玉林, 李刚, 燕少安, 肖永光, 唐明华. 基于55 nm DICE结构的单粒子翻转效应模拟研究. 物理学报, 2024, 73(6): 066103. doi: 10.7498/aps.73.20231564

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