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利用X射线出射强度简化公式进行微分析

薛德钧

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利用X射线出射强度简化公式进行微分析

薛德钧

APPLICATION OF SIMPLIFIED EXPRESSION OF EMITTED CHARACTERISTIC X-RAY INTENSITY FOR MICROANALYSIS

XUE DE-JUN
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出版历程
  • 收稿日期:  1986-04-16
  • 刊出日期:  1987-02-05

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