| [1] |
李名锐, 周刚, 初哲, 戴湘晖, 吴海军, 范如玉. 共振价键波函数在高压液氢量子蒙卡模拟中的适用性研究. 物理学报,
2013, 62(15): 156101.
doi: 10.7498/aps.62.156101
|
| [2] |
王延峰, 张晓丹, 黄茜, 刘阳, 魏长春, 赵颖. 室温制备低电阻率高透过率H, W共掺杂ZnO薄膜. 物理学报,
2013, 62(1): 017803.
doi: 10.7498/aps.62.017803
|
| [3] |
王宁, 董刚, 杨银堂, 陈斌, 王凤娟, 张岩. 考虑晶粒尺寸效应的超薄(1050 nm) Cu电阻率模型研究. 物理学报,
2012, 61(1): 016802.
doi: 10.7498/aps.61.016802
|
| [4] |
郭风祥, 吕婷, 贾燕, 田学雷. 液态铅的电阻率计算. 物理学报,
2011, 60(7): 077204.
doi: 10.7498/aps.60.077204
|
| [5] |
周 昀, 龙云泽, 陈兆甲, 张志明, 万梅香. 水和乙醇对纳米管结构聚苯胺电阻率的影响. 物理学报,
2005, 54(1): 228-232.
doi: 10.7498/aps.54.228
|
| [6] |
龙云泽, 陈兆甲, 张志明, 万梅香, 郑 萍, 王楠林, 贺朝会, 耿 斌, 杨海亮, 陈晓华, 王燕萍, 李国政. 纳米管结构聚苯胺的电阻率和磁化率. 物理学报,
2003, 52(1): 175-179.
doi: 10.7498/aps.52.175
|
| [7] |
王印月, 甄聪棉, 龚恒翔, 阎志军, 王亚凡, 刘雪芹, 杨映虎, 何山虎. 传输线模型测量Au/Ti/p型金刚石薄膜的欧姆接触电阻率. 物理学报,
2000, 49(7): 1348-1351.
doi: 10.7498/aps.49.1348
|
| [8] |
王晓平, 赵特秀, 季航, 梁齐, 董翊. 晶粒尺寸对薄膜电阻率温度系数的影响. 物理学报,
1994, 43(2): 297-302.
doi: 10.7498/aps.43.297
|
| [9] |
季航, 赵特秀, 王晓平, 董翊. 磁控溅射MO薄膜电阻率的原位研究. 物理学报,
1993, 42(8): 1340-1345.
doi: 10.7498/aps.42.1340
|
| [10] |
金继荣, 金新, 韩永胜, 吉和林, 谢晖, 张治平, 姚希贤. 低通量慢中子辐照对高Tc超导体正常态电阻的影响及其机理探讨. 物理学报,
1993, 42(8): 1346-1351.
doi: 10.7498/aps.42.1346
|
| [11] |
李正中, 许望, 周青春. 弱色散重费密子合金模型的电阻率. 物理学报,
1991, 40(2): 281-288.
doi: 10.7498/aps.40.281
|
| [12] |
施一生, 赵特秀, 刘洪图, 王晓平. 射频溅射Pd薄膜的电阻率研究. 物理学报,
1990, 39(11): 1803-1810.
doi: 10.7498/aps.39.1803
|
| [13] |
沈保根, 詹文山, 赵见高, 陈庆华, 陈金昌. 非晶态FeZrB合金的电阻率与温度的关系. 物理学报,
1988, 37(5): 809-813.
doi: 10.7498/aps.37.809
|
| [14] |
曹忠胜, 赵忠贤, 冯本政. 金属玻璃CuTi合金的电阻率. 物理学报,
1985, 34(5): 652-662.
doi: 10.7498/aps.34.652
|
| [15] |
陈存礼. 金属-块状半导体的接触电阻率——四点结构模型. 物理学报,
1984, 33(9): 1314-1320.
doi: 10.7498/aps.33.1314
|
| [16] |
朱元贞, 潘少华. A-15型V3B系超导化合物正常态顺磁磁化率. 物理学报,
1981, 30(5): 694-699.
doi: 10.7498/aps.30.694
|
| [17] |
蔡诗东, 吴京生. 磁化等离子体的纵向电阻率. 物理学报,
1980, 29(2): 225-232.
doi: 10.7498/aps.29.225
|
| [18] |
雷啸霖. 替代式合金系统的电阻率. 物理学报,
1980, 29(11): 1395-1404.
doi: 10.7498/aps.29.1395
|
| [19] |
雷啸霖. 无序晶态合金的电阻率. 物理学报,
1980, 29(11): 1385-1394.
doi: 10.7498/aps.29.1385
|
| [20] |
冯锡淇, 骆宾章, 唐福娣, 张雁行, 洪福根, 谭浩然. 用范德保法测量碳化硅的电阻率和霍耳效应. 物理学报,
1966, 22(9): 967-975.
doi: 10.7498/aps.22.967
|
下载:
