| [1] |
刘华松, 杨霄, 王利栓, 姜承慧, 刘丹丹, 季一勤, 张锋, 陈德应. SiO2薄膜红外波段介电常数谱的高斯振子模型研究. 物理学报,
2017, 66(5): 054211.
doi: 10.7498/aps.66.054211
|
| [2] |
王党会, 许天旱, 宋海洋. 纤锌矿GaN外延层薄膜热膨胀行为的变温Raman散射研究. 物理学报,
2016, 65(13): 130702.
doi: 10.7498/aps.65.130702
|
| [3] |
郭昭龙, 赵海新, 赵卫. 纳米ZnO-SiO2自清洁增透薄膜的制备及其性能. 物理学报,
2016, 65(6): 064206.
doi: 10.7498/aps.65.064206
|
| [4] |
苏丹, 窦秀明, 丁琨, 王海艳, 倪海桥, 牛智川, 孙宝权. 金纳米颗粒光散射提高InAs单量子点荧光提取效率. 物理学报,
2015, 64(23): 235201.
doi: 10.7498/aps.64.235201
|
| [5] |
王红培, 王广龙, 喻颖, 徐应强, 倪海桥, 牛智川, 高凤岐. 内嵌InAs量子点的δ掺杂GaAs/AlxGa1-xAs二维电子气特性分析. 物理学报,
2013, 62(20): 207303.
doi: 10.7498/aps.62.207303
|
| [6] |
刘华松, 季一勤, 姜玉刚, 王利栓, 冷健, 孙鹏, 庄克文. SiO2薄膜内部短程有序微结构研究. 物理学报,
2013, 62(18): 187801.
doi: 10.7498/aps.62.187801
|
| [7] |
李文生, 孙宝权. 电场调谐InAs量子点荷电激子光学跃迁. 物理学报,
2013, 62(4): 047801.
doi: 10.7498/aps.62.047801
|
| [8] |
杨健戈, 孙成林, 杨永波, 高淑琴, 姜永恒, 里佐威. 改变溶液折射率方法研究Fermi共振. 物理学报,
2012, 61(3): 037802.
doi: 10.7498/aps.61.037802
|
| [9] |
蒋洪良, 张荣军, 周宏明, 姚端正, 熊贵光. InAs量子点中自旋-轨道相互作用下电子自旋弛豫的参量特征. 物理学报,
2011, 60(1): 017204.
doi: 10.7498/aps.60.017204
|
| [10] |
周鸿娟, 甄聪棉, 张永进, 赵翠莲, 马丽, 侯登录. N掺杂SiO2纳米薄膜的制备及其磁性. 物理学报,
2010, 59(5): 3499-3503.
doi: 10.7498/aps.59.3499
|
| [11] |
程莉, 熊锐, 石兢. 自旋梯状化合物Sr14Cu24O41+δ的Raman散射谱的研究. 物理学报,
2010, 59(7): 5078-5084.
doi: 10.7498/aps.59.5078
|
| [12] |
王 茺, 刘昭麟, 李天信, 陈平平, 崔昊杨, 肖 军, 张 曙, 杨 宇, 陆 卫. 插入生长AlGaAs薄膜对InAs量子点探测器性能的影响. 物理学报,
2008, 57(2): 1155-1160.
doi: 10.7498/aps.57.1155
|
| [13] |
宋淑芳, 陈维德, 许振嘉, 徐叙瑢. 掺Er/Er+O的GaN薄膜光学性质的研究. 物理学报,
2007, 56(3): 1621-1626.
doi: 10.7498/aps.56.1621
|
| [14] |
王瑞敏, 陈光德, 竹有章. 六方相InGaN外延膜的显微Raman散射. 物理学报,
2006, 55(2): 914-919.
doi: 10.7498/aps.55.914
|
| [15] |
刘晓东, 倪培根, 程丙英, 张道中. 可变晶格常数乙醇-二氧化硅胶质光子晶体中的Raman散射. 物理学报,
2004, 53(9): 3059-3064.
doi: 10.7498/aps.53.3059
|
| [16] |
尚也淳, 张义门, 张玉明. SiC/SiO2界面粗糙散射对沟道迁移率影响的Monte Carlo研究. 物理学报,
2001, 50(7): 1350-1354.
doi: 10.7498/aps.50.1350
|
| [17] |
岳兰平, 何怡贞. 纳米Ge颗粒镶嵌薄膜的Raman散射光谱研究. 物理学报,
1996, 45(10): 1756-1761.
doi: 10.7498/aps.45.1756
|
| [18] |
石旺舟, 姚伟国, 戚震中, 何怡贞. 镶嵌在SiO2薄膜中纳米GaAs颗粒的Raman散射研究. 物理学报,
1995, 44(7): 1172-1176.
doi: 10.7498/aps.44.1172
|
| [19] |
郑杭. RbNiF3自旋波量子对的Raman散射谱理论分析. 物理学报,
1982, 31(12): 13-27.
doi: 10.7498/aps.31.13
|
| [20] |
沈世纲, 黄敞, 于凤树. 关于热生长SiO2薄膜厚度的测量. 物理学报,
1964, 20(7): 654-661.
doi: 10.7498/aps.20.654
|
下载:
