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简单反射法测量聚合物薄膜线性电光系数的研究
史伟
,
房昌水
,
潘奇伟
,
孟凡青
,
顾庆天
,
许东
,
陈钢进
,
余金中
物理学报, 2000,
49(2)
: 262-266.
DOI:
10.7498/aps.49.262
CSTR:
32037.14.aps.49.262
Acta Phys. Sin.
, 2000,
49(2)
: 262-266.
DOI:
10.7498/aps.49.262
CSTR:
32037.14.aps.49.262
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简单反射法是电光聚合物薄膜研究中测量线性电光系数(Pockels系数)的一种简单而常采用的方法,但文献中关于在调制电场作用下s光和p光光程差和位相差改变的计算有不尽完善之处,线性电光系数的表达结果也不尽相同.在充分考虑各种因素的情况下,对该方法给出了合理的理论处理,得出了简单反射法更为严格的线性电光系数表达式.并测量对比了几种聚合物线性电光系数的结果.讨论了简单反射法测量聚合物薄膜线性电光系数的局限性.
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