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高指数稳定硅表面的低能电子衍射图分析

姜金龙 李文杰 周 立 赵汝光 杨威生

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高指数稳定硅表面的低能电子衍射图分析

姜金龙, 李文杰, 周 立, 赵汝光, 杨威生

Investigation of stable high-index silicon surfacesby means of LEED pattern analysis

Jiang Jin-Long, Li Wen-Jie, Zhou Li, Zhao Ru-Guang, Yang Wei-Sheng
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出版历程
  • 收稿日期:  2002-05-13
  • 修回日期:  2002-06-12
  • 刊出日期:  2005-04-03

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