搜索

x

留言板

尊敬的读者、作者、审稿人, 关于本刊的投稿、审稿、编辑和出版的任何问题, 您可以本页添加留言。我们将尽快给您答复。谢谢您的支持!

姓名
邮箱
手机号码
标题
留言内容
验证码

浮栅ROM集成电路空间低剂量率辐射失效时间预估

何宝平 郭红霞 龚建成 王桂珍 罗尹虹 李永宏

引用本文:
Citation:

浮栅ROM集成电路空间低剂量率辐射失效时间预估

何宝平, 郭红霞, 龚建成, 王桂珍, 罗尹虹, 李永宏

Prediction of failure time for floating gate ROM devices at low dose rate in space radiation environment

He Bao-Ping, Guo Hong-Xia, Gong Jian-Cheng, Wang Gui-Zhen, Luo Yin-Hong, Li Yong-Hong
PDF
导出引用
计量
  • 文章访问数:  6737
  • PDF下载量:  836
  • 被引次数: 0
出版历程
  • 收稿日期:  2003-11-13
  • 修回日期:  2003-12-29
  • 刊出日期:  2004-09-16

/

返回文章
返回