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发光二极管可靠性的噪声表征

胡 瑾 杜 磊 庄奕琪 包军林 周 江

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发光二极管可靠性的噪声表征

胡 瑾, 杜 磊, 庄奕琪, 包军林, 周 江

Noise as a representation for reliability of light emitting diode

Hu Jin, Du Lei, Zhuang Yi-Qi, Bao Jun-Lin, Zhou Jiang
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出版历程
  • 收稿日期:  2005-12-09
  • 修回日期:  2005-12-18
  • 刊出日期:  2006-03-20

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