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CMOS器件60Co γ射线、电子和质子电离辐射损伤比较

何宝平 陈 伟 王桂珍

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CMOS器件60Co γ射线、电子和质子电离辐射损伤比较

何宝平, 陈 伟, 王桂珍

A comparison of ionizing radiation damage in CMOS devices from 60Co Gamma rays, electrons and protons

He Bao-Ping, Chen Wei, Wang Gui-Zhen
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出版历程
  • 收稿日期:  2005-09-28
  • 修回日期:  2006-01-13
  • 刊出日期:  2006-07-20

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