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金属氧化物半导体场效应管热载流子退化的1/fγ噪声相关性研究

刘宇安 杜 磊 包军林

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金属氧化物半导体场效应管热载流子退化的1/fγ噪声相关性研究

刘宇安, 杜 磊, 包军林

Research on correlation of 1/fγ noise and hot carrier degradation in metal oxide semiconductor field effect transistor

Liu Yu-An, Du Lei, Bao Jun-Lin
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出版历程
  • 收稿日期:  2007-07-17
  • 修回日期:  2007-09-06
  • 刊出日期:  2008-02-05

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