YBa2Cu3O7-x涂层导体的外延生长和性能对CeO2缓冲层的依赖性

李美亚; 汪  晶; 刘  军; 于本方; 郭冬云; 赵兴中

doi:10.7498/aps.57.3132

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YBa2Cu3O7-x涂层导体的外延生长和性能对CeO2缓冲层的依赖性

李美亚 , 汪晶 , 刘军 , 于本方 , 郭冬云 , 赵兴中

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凝聚物质：结构、热学和力学性质

YBa2Cu3O7-x涂层导体的外延生长和性能对CeO2缓冲层的依赖性

李美亚, 汪晶, 刘军, 于本方, 郭冬云, 赵兴中

物理学报, 2008, 57(5): 3132-3137.

doi: 10.7498/aps.57.3132

Dependence of growth and property of YBa2Cu3O7-x coated conductors on the thickness of CeO2 buffer layer

Li Mei-Ya, Wang Jing, Liu Jun, Yu Ben-Fang, Guo Dong-Yun, Zhao Xing-Zhong

Acta Phys. Sin., 2008, 57(5): 3132-3137.

doi: 10.7498/aps.57.3132

摘要
利用倾斜衬底沉积法在无织构的金属衬底上生长了MgO双轴织构的模板层，在这一模板层上实现了YBa2Cu3O7-x薄膜的外延生长.在外延YBa2Cu3O7-x薄膜前，依次沉积了钇稳定的立方氧化锆和CeO2作为缓冲层.利用X射线衍射2θ扫描、扫描、Ω扫描和极图分析测定了这些膜的结构和双轴织

关键词:
YBa2Cu3O7-x镀膜导体 /

CeO2缓冲层 /

厚度依赖性 /

外延生长
Abstract
Biaxially textured MgO templates were grown on un-textured metal substrates by inclined-substrate-deposition and YBa2Cu3O7-x films were epitaxially grown on these substrates by pulsed laser deposition. Yttria-stablized-zirconia and CeO2 were deposited in turn as buffer layers prior to YBa2Cu3O7-x growth. The biaxial alignment features of the films were examined by X-ray diffraction 2θ-scan，pole-figure，-scan and rocking curve of Ω angles. The Raman spectroscopy，scanning electron microscopy and atomic force microscopy were used to characterize the orientation order，morphology and surface roughness of the YBa2Cu3O7-x films，respectively. The influence of the thickness of CeO2 on the properties of the YBa2Cu3O7-x films were investigated and the singnificant and unique dependence of the properties of YBa2Cu3O7-x films on the thickness of CeO2 were revealed. The possible mechanisms for this dependence were discussed.

Keywords:
YBa2Cu3O7-x-coated conductors /

cerium oxide /

thickness effect /

epitaxial growth
作者及机构信息
李美亚²,

汪晶¹,

刘军¹,

于本方¹,

郭冬云¹,

赵兴中²

(1)武汉大学物理科学与技术学院，武汉 430072; (2)武汉大学物理科学与技术学院，武汉 430072；武汉大学教育部声光材料与器件重点实验室，武汉 430072

基金项目: 教育部留学回国人员科研启动基金(批准号：2004-527)资助的课题.
Authors and contacts
Li Mei-Ya²,

Wang Jing¹,

Liu Jun¹,

Yu Ben-Fang¹,

Guo Dong-Yun¹,

Zhao Xing-Zhong²

(1)武汉大学物理科学与技术学院，武汉 430072; (2)武汉大学物理科学与技术学院，武汉 430072；武汉大学教育部声光材料与器件重点实验室，武汉 430072
参考文献

施引文献

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[20]	高之爽, 侯志坚, 杜宝石, 王晨旭, 祝长宇, 李运钧, 刘福绥. YBa2Cu3O7-x高温导电性的研究. 物理学报, 1990, 39(8): 138-144. doi: 10.7498/aps.39.138

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物理学报. 2008, 57(5): 3132-3137.

doi: 10.7498/aps.57.3132.

YBa2Cu3O7-x涂层导体的外延生长和性能对CeO2缓冲层的依赖性

1. (1)武汉大学物理科学与技术学院，武汉 430072; (2)武汉大学物理科学与技术学院，武汉 430072；武汉大学教育部声光材料与器件重点实验室，武汉 430072

基金项目: 教育部留学回国人员科研启动基金(批准号：2004-527)资助的课题.

收稿日期: 2007-08-20
修回日期: 2007-11-02
刊出日期: 2008-05-28

摘要: 利用倾斜衬底沉积法在无织构的金属衬底上生长了MgO双轴织构的模板层，在这一模板层上实现了YBa2Cu3O7-x薄膜的外延生长.在外延YBa2Cu3O7-x薄膜前，依次沉积了钇稳定的立方氧化锆和CeO2作为缓冲层.利用X射线衍射2θ扫描、扫描、Ω扫描和极图分析测定了这些膜的结构和双轴织

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Dependence of growth and property of YBa2Cu3O7-x coated conductors on the thickness of CeO2 buffer layer

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作者及机构信息

(1)武汉大学物理科学与技术学院，武汉 430072; (2)武汉大学物理科学与技术学院，武汉 430072；武汉大学教育部声光材料与器件重点实验室，武汉 430072

Authors and contacts

(1)武汉大学物理科学与技术学院，武汉 430072; (2)武汉大学物理科学与技术学院，武汉 430072；武汉大学教育部声光材料与器件重点实验室，武汉 430072

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1.
(1)武汉大学物理科学与技术学院，武汉 430072; (2)武汉大学物理科学与技术学院，武汉 430072；武汉大学教育部声光材料与器件重点实验室，武汉 430072

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Dependence of growth and property of YBa2Cu3O7-x coated conductors on the thickness of CeO2 buffer layer

1. (1)武汉大学物理科学与技术学院，武汉 430072; (2)武汉大学物理科学与技术学院，武汉 430072；武汉大学教育部声光材料与器件重点实验室，武汉 430072

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