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MOS结构电离辐射效应模型研究

陈伟华 杜磊 庄奕琪 包军林 何亮 张天福 张雪

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MOS结构电离辐射效应模型研究

陈伟华, 杜磊, 庄奕琪, 包军林, 何亮, 张天福, 张雪

A model considering the ionizing radiation effects in MOS structure

Chen Wei-Hua, Du Lei, Zhuang Yi-Qi, Bao Jun-Lin, He Liang, Zhang Tian-Fu, Zhang Xue
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出版历程
  • 收稿日期:  2008-08-14
  • 修回日期:  2008-11-11
  • 刊出日期:  2009-03-05

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