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介孔SiO2薄膜孔结构的慢正电子技术表征

王巧占 于润升 秦秀波 李玉晓 王宝义 贾全杰

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介孔SiO2薄膜孔结构的慢正电子技术表征

王巧占, 于润升, 秦秀波, 李玉晓, 王宝义, 贾全杰

Pore structure determination of mesoporous SiO2 thin films by slow positron annihilation spectroscopy

Wang Qiao-Zhan, Yu Run-Sheng, Qin Xiu-Bo, Li Yu-Xiao, Wang Bao-Yi, Jia Quan-Jie
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出版历程
  • 收稿日期:  2009-02-27
  • 修回日期:  2009-04-22
  • 刊出日期:  2009-06-05

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