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高功率微波作用下热载流子引起n型金属-氧化物-半导体场效应晶体管特性退化研究

游海龙 蓝建春 范菊平 贾新章 查薇

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高功率微波作用下热载流子引起n型金属-氧化物-半导体场效应晶体管特性退化研究

游海龙, 蓝建春, 范菊平, 贾新章, 查薇

Research on characteristics degradation of n-metal-oxide-semiconductor field-effect transistor induced by hot carrier effect due to high power microwave

You Hai-Long, Lan Jian-Chun, Fan Ju-Ping, Jia Xin-Zhang, Zha Wei
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出版历程
  • 收稿日期:  2011-08-16
  • 修回日期:  2012-05-28
  • 刊出日期:  2012-05-05

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