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低剂量率60Co γ 射线辐照下SOI MOS器件的退化机理

商怀超 刘红侠 卓青青

引用本文:
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低剂量率60Co γ 射线辐照下SOI MOS器件的退化机理

商怀超, 刘红侠, 卓青青

Degradation mechanism of SOI NMOS devices exposed to 60Co γ-ray at low dose rate

Shang Huai-Chao, Liu Hong-Xia, Zhuo Qing-Qing
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出版历程
  • 收稿日期:  2012-06-11
  • 修回日期:  2012-07-12
  • 刊出日期:  2012-12-05

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