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总剂量辐照效应对窄沟道SOI NMOSFET器件的影响

宁冰旭 胡志远 张正选 毕大炜 黄辉祥 戴若凡 张彦伟 邹世昌

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总剂量辐照效应对窄沟道SOI NMOSFET器件的影响

宁冰旭, 胡志远, 张正选, 毕大炜, 黄辉祥, 戴若凡, 张彦伟, 邹世昌

Effects of total ionizing dose on narrow-channel SOI NMOSFETs

Ning Bing-Xu, Hu Zhi-Yuan, Zhang Zheng-Xuan, Bi Da-Wei, Huang Hui-Xiang, Dai Ruo-Fan, Zhang Yan-Wei, Zou Shi-Chang
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出版历程
  • 收稿日期:  2012-10-10
  • 修回日期:  2012-10-29
  • 刊出日期:  2013-04-05

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