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总剂量辐射环境中的静态随机存储器功能失效模式研究

郑齐文 余学峰 崔江维 郭旗 任迪远 丛忠超

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总剂量辐射环境中的静态随机存储器功能失效模式研究

郑齐文, 余学峰, 崔江维, 郭旗, 任迪远, 丛忠超

Research on SRAM functional failure mode induced by total ionizing dose irradiation

Zheng Qi-Wen, Yu Xue-Feng, Cui Jiang-Wei, Guo Qi, Ren Di-Yuan, Cong Zhong-Chao
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出版历程
  • 收稿日期:  2012-12-30
  • 修回日期:  2013-01-30
  • 刊出日期:  2013-06-05

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