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串口型铁电存储器总剂量辐射损伤效应和退火特性

张兴尧 郭旗 陆妩 张孝富 郑齐文 崔江维 李豫东 周东

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串口型铁电存储器总剂量辐射损伤效应和退火特性

张兴尧, 郭旗, 陆妩, 张孝富, 郑齐文, 崔江维, 李豫东, 周东

Serial ferroelectric memory ionizing radiation effects and annealing characteristics

Zhang Xing-Yao, Guo Qi, Lu Wu, Zhang Xiao-Fu, Zheng Qi-Wen, Cui Jiang-Wei, Li Yu-Dong, Zhou Dong
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出版历程
  • 收稿日期:  2013-01-04
  • 修回日期:  2013-04-15
  • 刊出日期:  2013-08-05

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