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用横场伊辛模型研究应力对铁电薄膜的热力学性质的影响

陶永梅 蒋 青 曹海霞

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用横场伊辛模型研究应力对铁电薄膜的热力学性质的影响

陶永梅, 蒋 青, 曹海霞

Impact of stress on the thermodynamic properties of ferroelectric films within the transverse Ising model

Tao Yong-Mei, Jiang Qing, Cao Hai-Xia
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出版历程
  • 收稿日期:  2004-03-05
  • 修回日期:  2004-04-07
  • 刊出日期:  2005-01-19

用横场伊辛模型研究应力对铁电薄膜的热力学性质的影响

  • 1. (1)苏州大学物理系,苏州 215006; (2)苏州大学物理系,苏州 215006;常熟理工学院物理系,常熟 215500
    基金项目: 江苏省教育厅基金(批准号:JW970058)资助的课题.

摘要: 用横场伊辛模型研究了铁电薄膜的热力学性质.在体系的哈密顿量中引入一个两维的在平面内的应力,并假设应力从基底材料和薄膜材料之间的界面层到薄膜的表面层是呈指数形式衰减的.结果显示:压应力有利于极化,使居里温度向高温区移动,而张应力对极化和居里温度的影响正好相反.扩散长度对铁电薄膜的热力学性质有很大的影响.

English Abstract

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