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利用小角X射线散射技术研究组分对聚酰亚胺/Al2O3杂化薄膜界面特性与分形特征的影响

刘晓旭 殷景华 程伟东 卜文斌 范勇 吴忠华

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利用小角X射线散射技术研究组分对聚酰亚胺/Al2O3杂化薄膜界面特性与分形特征的影响

刘晓旭, 殷景华, 程伟东, 卜文斌, 范勇, 吴忠华

Research on interface and fractal characteristics of PI/Al2O3Films by SAXS

Fan Yong, Bu Wen-Bin, Liu Xiao-Xu, Cheng Wei-Dong, Wu Zhong-Hua, Yin Jing-Hua
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  • 采用溶胶-凝胶方法制备无机纳米杂化聚酰亚胺(PI),应用同步辐射小角X射线散射(SAXS)方法研究不同组分杂化PI薄膜的界面特性与分形特征.研究结果表明:散射曲线不遵守Porod定理,形成负偏离,说明薄膜中有机相与Al2O3纳米颗粒间存在界面层,界面层厚度在0.54 nm到1.48 nm范围内;随无机纳米组分增加,界面层厚度增加,有机相与无机相作用变强;无机纳米颗粒同时具有质量分形和表面分形特征,其分布、集结是一种非线性动力学过程;随组分增加,其质量分形维数降低
    Inorganic nano-composite polyimide (PI) films were prepared with the method of sol-gel. The interfacial situation and the fractal characteristics of PI films were investigated by small angle X-ray scattering (SAXS) using synchrotron radiation as X-ray source. SAXS results indicated that the scattering curves in the high-angle region have a negative slope, i.e., a negative deviation from Porod's law, which suggests that there are obvious interface layers between the organic phase and the inorganic phase in the PI films. The thicknesses of interface layers are 0.54—1.48 nm. The interaction of the organic phase and inorganic phase becomes stronger and the thickness of interfacial layer increases with the increase of inorganic nano-components. Nano-particles have mass fractal, simultaneously have surface fractal structure, and their distribution and assemblage are nonlinear dynamic processes. With the inorganic nano-components increasing, the surface fractal dimension increases and mass fractal dimension decreases, which shows that the nano-particles structure becomes looser and mass distribution becomes more uneven. The anchoring action of polymer chains is enhanced and the number of anchored point increased respectively, the surface of the hybrid PI films becomes rougher. Finally, according to the interface characteristics of hybrid PI films, the relationship of the breakdown field strength with component is analyzed by percolation theory and polarization theory.
    • 基金项目: 国家自然科学基金(批准号:50677009,51077028)和黑龙江省自然科学基金(批准号:A201006)资助的课题.
    [1]

    Nelson J K , Fothergill J C 2004 Nanotechnology 15 586

    [2]

    Irwin P C ,Cao Y ,bansal A,Schadler L S 2003 Conf. Electr. Insul. Dielectr Phenomena(CEIDP) 120 12

    [3]

    Fabiani D, Montanari G C, Cavallini A 2004 IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation 11 393

    [4]

    Kioul A, Mascia L 1994 J. Non-Cryst. Solids 175 2

    [5]

    Agag T, Koga T, Takeichi T 2001 Polymet 42 3399

    [6]

    Rong L X, Wei L H, Dong B Z, Hong X G, Li F M, Li Z C 2003 Chin. Phys. Soc. 12 0771

    [7]

    Liu W, Johnson W L, Schneider S,Geyer U, Thiyagarajan P 1999 Phys. Rev. B 59 11755

    [8]

    Giovanna M, Eder JK, Jackson DS, Arthur T, Tiago DV, Sérgio RT, Dimitrios S 2009 Eur. Polym. J 45 700

    [9]

    Wang W, Chen X, Cai Q,Mo G, Jiang L S, Zhang K, Chen Z J, Wu Z H, Pan W 2008 Eur. Polym. J. B 65 57

    [10]

    Reinhold B, Geue T, Huber P, Sant T, Pietsch U, Sztucki M 2009 Langmuir 25 814

    [11]

    Miyasaka K, Neimark A V, Terasaki O, 2009 J. Phys. Chem. C 113 791

    [12]

    Chen Z J, Wang W, Wu D, Cai Q, Chen X, Wu Z H 2008 Acta Phys. Sin. 57 5793 (in Chinese) [陈中军、 王 维、 蔡 泉、陈 兴、 吴忠华 2008 物理学报57 5793]

    [13]

    Tu D M 2005 Transactions of China Electrotechnical Society 20 8[屠德民 2005 电工技术学报 20 8]

    [14]

    Meng Z F 1996 Theory and Applicaion of Small Angle X-ray Scattering 55 (Chinese: Jilin Science and Technical Press). [孟昭富 1996小角 X 射线散射理论及应用, 55 (吉林科学技术出版社)]

    [15]

    Li Z H, Gong Y J, Wu D, Sun Y H, Dong B Z 2001 Acta Phys. Sin. 50 1128 (in Chinese) [李志宏、巩雁军、吴 东、孙予罕、董宝中 2001 物理学报 50 1128]

    [16]

    Lewis T J 2004 IEEE T. Dielect. EI. In.11 739

    [17]

    Lewis T J 2005 Phys. D: Appl. Phys. 38 202

    [18]

    Porod G, Kolloid Z Z 1951 Polym. 124 83

    [19]

    Brumberger H 1993 Mordern Aspects of Small-Angle Scattering (London:Kluwer Academic)

    [20]

    McMahon P J, Moss SD 1999 J. Appl. Crystallogr 32 956

    [21]

    Gaboriaud F, Chaumont D,Nonat A,Craievich A 2000 J. Appl. Crystallogr 33 597

    [22]

    Schmidt P W 1992 J. Appl. Crystallog. 15 567

    [23]

    Sareni B, Brosseau C 1996 J. Appl. Phys. 80 1688

    [24]

    Konski O, 1960 J. Phys. Chem. 64 605

    [25]

    Chew W C, Sen P N 1982 J.Chem.Phys. 77 4683

  • [1]

    Nelson J K , Fothergill J C 2004 Nanotechnology 15 586

    [2]

    Irwin P C ,Cao Y ,bansal A,Schadler L S 2003 Conf. Electr. Insul. Dielectr Phenomena(CEIDP) 120 12

    [3]

    Fabiani D, Montanari G C, Cavallini A 2004 IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation 11 393

    [4]

    Kioul A, Mascia L 1994 J. Non-Cryst. Solids 175 2

    [5]

    Agag T, Koga T, Takeichi T 2001 Polymet 42 3399

    [6]

    Rong L X, Wei L H, Dong B Z, Hong X G, Li F M, Li Z C 2003 Chin. Phys. Soc. 12 0771

    [7]

    Liu W, Johnson W L, Schneider S,Geyer U, Thiyagarajan P 1999 Phys. Rev. B 59 11755

    [8]

    Giovanna M, Eder JK, Jackson DS, Arthur T, Tiago DV, Sérgio RT, Dimitrios S 2009 Eur. Polym. J 45 700

    [9]

    Wang W, Chen X, Cai Q,Mo G, Jiang L S, Zhang K, Chen Z J, Wu Z H, Pan W 2008 Eur. Polym. J. B 65 57

    [10]

    Reinhold B, Geue T, Huber P, Sant T, Pietsch U, Sztucki M 2009 Langmuir 25 814

    [11]

    Miyasaka K, Neimark A V, Terasaki O, 2009 J. Phys. Chem. C 113 791

    [12]

    Chen Z J, Wang W, Wu D, Cai Q, Chen X, Wu Z H 2008 Acta Phys. Sin. 57 5793 (in Chinese) [陈中军、 王 维、 蔡 泉、陈 兴、 吴忠华 2008 物理学报57 5793]

    [13]

    Tu D M 2005 Transactions of China Electrotechnical Society 20 8[屠德民 2005 电工技术学报 20 8]

    [14]

    Meng Z F 1996 Theory and Applicaion of Small Angle X-ray Scattering 55 (Chinese: Jilin Science and Technical Press). [孟昭富 1996小角 X 射线散射理论及应用, 55 (吉林科学技术出版社)]

    [15]

    Li Z H, Gong Y J, Wu D, Sun Y H, Dong B Z 2001 Acta Phys. Sin. 50 1128 (in Chinese) [李志宏、巩雁军、吴 东、孙予罕、董宝中 2001 物理学报 50 1128]

    [16]

    Lewis T J 2004 IEEE T. Dielect. EI. In.11 739

    [17]

    Lewis T J 2005 Phys. D: Appl. Phys. 38 202

    [18]

    Porod G, Kolloid Z Z 1951 Polym. 124 83

    [19]

    Brumberger H 1993 Mordern Aspects of Small-Angle Scattering (London:Kluwer Academic)

    [20]

    McMahon P J, Moss SD 1999 J. Appl. Crystallogr 32 956

    [21]

    Gaboriaud F, Chaumont D,Nonat A,Craievich A 2000 J. Appl. Crystallogr 33 597

    [22]

    Schmidt P W 1992 J. Appl. Crystallog. 15 567

    [23]

    Sareni B, Brosseau C 1996 J. Appl. Phys. 80 1688

    [24]

    Konski O, 1960 J. Phys. Chem. 64 605

    [25]

    Chew W C, Sen P N 1982 J.Chem.Phys. 77 4683

  • [1] 金鑫, 杨春明, 滑文强, 李怡雯, 王劼. PS3000-b-PAA5000球形胶束温度效应的原位小角X射线散射技术研究. 物理学报, 2018, 67(4): 048301. doi: 10.7498/aps.67.20172167
    [2] 孙星, 默广, 赵林志, 戴兰宏, 吴忠华, 蒋敏强. 小角X射线散射表征非晶合金纳米尺度结构非均匀. 物理学报, 2017, 66(17): 176109. doi: 10.7498/aps.66.176109
    [3] 杨文龙, 韩浚生, 王宇, 林家齐, 何国强, 孙洪国. 聚酰亚胺/功能化石墨烯复合材料力学性能及玻璃化转变温度的分子动力学模拟. 物理学报, 2017, 66(22): 227101. doi: 10.7498/aps.66.227101
    [4] 侯堃, 张占文, 黄勇, 韦建军. 气相沉积法制备聚酰亚胺薄膜不同单体配比的表征及其性能影响. 物理学报, 2016, 65(3): 035203. doi: 10.7498/aps.65.035203
    [5] 王松, 武占成, 唐小金, 孙永卫, 易忠. 聚酰亚胺电导率随温度和电场强度的变化规律. 物理学报, 2016, 65(2): 025201. doi: 10.7498/aps.65.025201
    [6] 翁明, 胡天存, 曹猛, 徐伟军. 电子入射角度对聚酰亚胺二次电子发射系数的影响. 物理学报, 2015, 64(15): 157901. doi: 10.7498/aps.64.157901
    [7] 林家齐, 李晓康, 杨文龙, 孙洪国, 谢志滨, 修翰江, 雷清泉. 聚酰亚胺/钽铌酸钾纳米颗粒复合材料结构与机械性能分子动力学模拟. 物理学报, 2015, 64(12): 126202. doi: 10.7498/aps.64.126202
    [8] 王飞, 刘望, 邓爱红, 朱敬军, 安竹, 汪渊. 界面对ZrN/TaN纳米多层膜固氦性能的影响. 物理学报, 2013, 62(18): 186801. doi: 10.7498/aps.62.186801
    [9] 孙伟峰, 王暄. 聚酰亚胺/铜纳米颗粒复合物的分子动力学模拟研究. 物理学报, 2013, 62(18): 186202. doi: 10.7498/aps.62.186202
    [10] 刘贵立, 杨忠华, 方戈亮. 镁/镀镍碳纳米管界面特性电子理论研究. 物理学报, 2009, 58(5): 3364-3369. doi: 10.7498/aps.58.3364
    [11] 程伟东, 孙民华, 李佳云, 王爱屏, 孙永丽, 刘 芳, 刘雄军. Cu60Zr30Ti10非晶合金弛豫和晶化过程的小角X射线散射研究. 物理学报, 2006, 55(12): 6673-6676. doi: 10.7498/aps.55.6673
    [12] 夏庆中, 陈 波, 曾贵玉, 罗顺火, 董海山, 荣利霞, 董宝中. 三氨基三硝基苯材料微孔结构的小角x射线散射实验研究. 物理学报, 2005, 54(7): 3273-3277. doi: 10.7498/aps.54.3273
    [13] 赵辉, 郭梅芳, 董宝中. 小角x射线散射结晶聚合物过渡层厚度的测定. 物理学报, 2004, 53(4): 1247-1250. doi: 10.7498/aps.53.1247
    [14] 徐 耀, 李志宏, 范文浩, 吴 东, 孙予罕, 王 俊, 董宝中. 小角x射线散射方法研究甲基改性氧化硅干凝胶的孔结构. 物理学报, 2003, 52(3): 635-640. doi: 10.7498/aps.52.635
    [15] 荣利霞, 解立平, 董宝中, 林伟刚, 王 俊. 同步辐射小角x射线散射方法研究由城市固体垃圾制备的活性炭. 物理学报, 2003, 52(3): 630-634. doi: 10.7498/aps.52.630
    [16] 荣利霞, 魏柳荷, 董宝中, 王俊, 李福绵, 李子臣. 两亲性嵌段聚合物的同步辐射小角x射线散射研究. 物理学报, 2002, 51(8): 1773-1777. doi: 10.7498/aps.51.1773
    [17] 赵辉, 董宝中, 郭梅芳, 王良诗, 乔金梁. 小角x射线散射结晶聚合物结构的研究. 物理学报, 2002, 51(12): 2887-2891. doi: 10.7498/aps.51.2887
    [18] 陆鹏, 王耀俊. 考虑界面状况时柱状弹性固体的声波散射. 物理学报, 2001, 50(4): 697-703. doi: 10.7498/aps.50.697
    [19] 牟维兵, 陈盘训. 用蒙特卡罗法计算X射线在重金属界面的剂量增强系数. 物理学报, 2001, 50(2): 189-192. doi: 10.7498/aps.50.189
    [20] 李志宏, 巩雁军, 吴东, 孙予罕, 王俊, 柳义, 董宝中. 小角X射线散射法测定溶胶平均界面厚度. 物理学报, 2001, 50(6): 1128-1131. doi: 10.7498/aps.50.1128
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出版历程
  • 收稿日期:  2010-02-08
  • 修回日期:  2010-08-18
  • 刊出日期:  2011-05-15

利用小角X射线散射技术研究组分对聚酰亚胺/Al2O3杂化薄膜界面特性与分形特征的影响

  • 1. (1)哈尔滨理工大学应用科学学院,哈尔滨 150080; (2)哈尔滨理工大学应用科学学院,哈尔滨 150080;工程电介质及其应用技术教育部重点实验室,哈尔滨 150080; (3)哈尔滨理工大学应用科学学院,哈尔滨 150080;黑龙江科技学院实训中心,哈尔滨 150027; (4)中国科学院高能物理研究所同步辐射室,北京 100049
    基金项目: 国家自然科学基金(批准号:50677009,51077028)和黑龙江省自然科学基金(批准号:A201006)资助的课题.

摘要: 采用溶胶-凝胶方法制备无机纳米杂化聚酰亚胺(PI),应用同步辐射小角X射线散射(SAXS)方法研究不同组分杂化PI薄膜的界面特性与分形特征.研究结果表明:散射曲线不遵守Porod定理,形成负偏离,说明薄膜中有机相与Al2O3纳米颗粒间存在界面层,界面层厚度在0.54 nm到1.48 nm范围内;随无机纳米组分增加,界面层厚度增加,有机相与无机相作用变强;无机纳米颗粒同时具有质量分形和表面分形特征,其分布、集结是一种非线性动力学过程;随组分增加,其质量分形维数降低

English Abstract

参考文献 (25)

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