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大规模集成电路总剂量效应测试方法初探

贺朝会 耿斌 何宝平 姚育娟 李永宏 彭宏论 林东生 周辉 陈雨生

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大规模集成电路总剂量效应测试方法初探

贺朝会, 耿斌, 何宝平, 姚育娟, 李永宏, 彭宏论, 林东生, 周辉, 陈雨生

Test methods of total dose effects in verylarge scale integrated circuits

He Chao-Hui, Geng Bin, He Bao-Ping, Yao Yu-Juan, Li Yong-Hong, Peng Hong-Lun, Lin Dong-Sheng, Zhou Hui, Chen Yu-Sheng
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出版历程
  • 收稿日期:  2003-01-24
  • 修回日期:  2003-03-17
  • 刊出日期:  2004-01-15

大规模集成电路总剂量效应测试方法初探

  • 1. 西北核技术研究所,西安69信箱13分箱,西安 710024
    基金项目: 国防预研基金(批准号:98J12.1.9)资助的课题.

摘要: 提出了初步的大规模集成电路总剂量效应测试方法。在监测器件和电路功能参数的同时,监测器件功耗电流的变化情况,分析数据错误与器件功耗电流变化的关系及其总剂量效应机理。给出了大规模集成电路:静态随机存取存储器(SRAM)、电擦除电编程只读存储器(EEPROM)、闪速存储器(FLASH ROM)和微处理器(CPU)的60Co γ总剂量效应实验的结果.

English Abstract

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