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中国物理学会期刊

关于半导体硅表面处理的某些问题

CSTR: 32037.14.aps.18.242

НЕКОТОРЫЕ ВОПРОСЫ ОБ ОБРАБОТКЕ ПОВЕРХНОСТИ КРЕМНИЯ

CSTR: 32037.14.aps.18.242
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  • 本文根据实验结果,叙述不同腐蚀剂对于硅的表面复合速度S的影响及其时间稳定性。简短地论述了利用稳定光电导测量S方法的实质,介绍了运算公式及实验设备。指出了在怎样的条件下进行表面处理才能正确测量硅的体寿命。同时也表明了硅的电阻率对表面复合速度的影响。由实验数据证明,在10%的KOH水溶液中进行腐蚀,能够在硅表面上得到较低的复合速度。

     

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