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一种N沟VDMOS电离辐射界面陷阱电流传导性研究

谭开洲 胡刚毅 杨谟华 徐世六 张正璠 刘玉奎 何开全 钟 怡

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一种N沟VDMOS电离辐射界面陷阱电流传导性研究

谭开洲, 胡刚毅, 杨谟华, 徐世六, 张正璠, 刘玉奎, 何开全, 钟 怡

Study of conductive property for a N-VDMOS interface trap under X-ray radiation

Sun Guang-Ai, Hu Gang-Yi, Yang Mo-Hua, Xu Shi-Liu, Zhang Zheng-Fan, Liu Yu-Kui, He Kai-Quan, Zhong Yi
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出版历程
  • 收稿日期:  2007-06-06
  • 修回日期:  2007-07-24
  • 刊出日期:  2008-03-20

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