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用~3He→D核反应分析Ti中的D

物理学报, 1995, 44(12): 1879-1885.
DOI: 10.7498/aps.44.1879
CSTR: 32037.14.aps.44.1879

Acta Phys. Sin., 1995, 44(12): 1879-1885.
DOI: 10.7498/aps.44.1879
CSTR: 32037.14.aps.44.1879
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  • 摘要

    用D-~3He核反应分析法分析中发生器用TiD_(?)靶中D的含量x.并利用Au-Si面垒探测器测量了质子能谱,获得了该探测器的灵敏层参量,仔细研究了半导体探测器对高能质子的响应.对质子射程同耗尽层厚度相当时的质子能谱进行的理论计算与实验现象一致.

     

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